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環(huán)境試驗(yàn)箱可以對電子元器件做哪些試驗(yàn)?
類別:行業(yè)新聞 發(fā)布時間:2023-10-23 16:12
環(huán)境試驗(yàn)箱用于電子電氣元件、自動化元件、通訊元件、汽車元件、電子芯片集成電路、半導(dǎo)體陶瓷、磁性和高分子材料的物理變化。測試材料耐高低溫的能力和產(chǎn)品在熱脹冷縮過程中發(fā)生的化學(xué)變化或物理損傷,以確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量。從精密集成電路到重型機(jī)械部件,也是各領(lǐng)域產(chǎn)品測試不可或缺的試驗(yàn)箱。
為了保證整批電子元器件的可靠性,滿足整機(jī)的要求,我們需要排除在某些特定的使用條件下,最初可能失效的元器件。
1、高溫貯存。
電子元器件的失效大多是由于機(jī)體及表面發(fā)生各種物理、化學(xué)變化而引起的,而這些變化又與溫度密切相關(guān)。溫度升高時,化學(xué)反應(yīng)速度大大加快,加速了失效過程。從而使有缺陷的部件能夠及時暴露出來并被淘汰。
高溫屏蔽被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體器件,可以有效地消除失效機(jī)制,如表面污染,鍵合不良,和氧化層缺陷。一般來說,它在最高結(jié)溫下儲存24至168小時。高溫貯存后,可穩(wěn)定元器件的參數(shù)性能,減少使用過程中的參數(shù)漂移。
2、通電測試。
篩選時,在熱電應(yīng)力的共同作用下,可以很好地暴露出元器件本體和表面上的許多潛在缺陷,環(huán)境試驗(yàn)箱是進(jìn)行可靠性篩選的重要項(xiàng)目。各種電子元器件通常在額定功率條件下進(jìn)行幾個小時到168小時的精制。有些產(chǎn)品,如集成電路,不能隨意改變條件,但可以采用高溫工作方法,提高工作結(jié)溫,達(dá)到高應(yīng)力狀態(tài)。
3、溫度循環(huán)。
電子產(chǎn)品在使用過程中會遇到不同的環(huán)境溫度條件。熱脹冷縮的應(yīng)力作用下,熱匹配性能差的部件很容易失效。溫度循環(huán)篩選利用了極端高溫和極端低溫之間的熱脹冷縮應(yīng)力,環(huán)境試驗(yàn)箱可以有效地淘汰具有熱性能缺陷的產(chǎn)品。常用的組分篩選條件是—55~125℃,5~10次循環(huán)。
電力精煉需要專門的檢測設(shè)備,成本較高,篩選時間不宜過長。民用產(chǎn)品通常是幾個小時,軍用高可靠性產(chǎn)品可以選擇100—168小時,而航空航天級部件可以選擇240小時或更長。
4、篩選組件的必要性。
在產(chǎn)品的制造過程中,由于人為因素或原材料、工藝條件、設(shè)備條件的波動,最終成品不一定全部達(dá)到預(yù)期的固有可靠性。環(huán)境試驗(yàn)箱在每一批成品中,總有一些產(chǎn)品存在一些潛在的缺陷和弱點(diǎn),這些缺陷和弱點(diǎn)的特點(diǎn)是在一定的應(yīng)力條件下早期失效。早期失效的組件的平均壽命要比正常產(chǎn)品短得多。